Skopiowano do schowka!
- Adres: 53-114 Wrocław, ul. Rudolfa Weigla 12
- Województwo: dolnośląskie
- Data zamieszczenia: 2026-03-13
- Zamieszczanie ogłoszenia: nieobowiązkowe
Zamawiający
- Nazwa zamawiającego: INSTYTUT IMMUNOLOGII I TERAPII DOŚWIADCZALNEJ IM.LUDWIKA HIRSZFELDA PAN WE WROCŁAWIU
- Adres: 53-114 Wrocław, ul. Rudolfa Weigla 12
- Adres email: zp@hirszfeld.pl
Przedmiot zamówienia
- Kod CPV: 38540000-2
- Nazwa zamówienia: Dostawa wraz z walidacją systemu służącego monitorowaniu sprzętu warunkującego wdrożenie w biobanku Systemu Zapewnienia Jakości zgodnie z normą ISO 20387:2021-02 oraz z normą PN-EN ISO 17025:2018
- Opis zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest udzielenie zamówienia wykonanie dostawy, montażu i uruchomienia radiowego (bezprzewodowego o częstotliwości innej niż 2,4 GHz i zasięgu min. 100m) systemu monitoringu temperatury i / lub wilgotności w urządzeniach chłodniczych i w pomieszczeniach wraz z walidacją systemu zgodnie z GAMP 5, będącego zgodnym z ‘EU GMP Annex 11’ oraz równoważnie z ‘CFR 21 part 11’
Podobne przetargi
- „Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM- II”
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM - II
- Stacje pomiarowe fotoniki - Zautomatyzowany system do precyzyjnego pozycjonowania falowodów
- Dostawa komory solnej
- Wyłonienie Wykonawcy w zakresie najmu aparatury badawczej do przeprowadzenia badań obrazowych in vivo u zwierząt doświadczalnych na potrzeby (JCET), ul. M. Bobrzyńskiego 14, Kraków.
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego wywoływania warstw polimerów
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego nakładania warstw polimerów
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa wektorowego analizatora sieci mikrofalowych wraz z niezbędnym oprzyrządowaniem pomiarowym
- Dostawa stanowiska goniofotometrycznego
- Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
- Dostawa spektrometru mobilności cząstek (MPSS)
- Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.
- Dostawa stanowiska do detekcji defektów przyrządów półprzewodnikowych w warunkach in-operando za pomocą mikroskopii emisyjnej