Skopiowano do schowka!
- Adres: 02-668 Warszawa, Aleja Lotników 32/46
- Województwo: mazowieckie
- Data zamieszczenia: 2026-04-16
- Zamieszczanie ogłoszenia: nieobowiązkowe
Zamawiający
- Nazwa zamawiającego: SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI
- Adres: 02-668 Warszawa, Aleja Lotników 32/46
- Adres email: agata.zygler@imif.lukasiewicz.gov.pl
- Strona internetowa: https://imif.lukasiewicz.gov.pl/
Przedmiot zamówienia
- Kod CPV: 38540000-2
- Nazwa zamówienia: Dostawa urządzenia do półautomatycznego nakładania warstw polimerów
- Opis zamówienia: 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja oraz kalibracja urządzenia do półautomatycznego nakładania emulsji litograficznych ze zbiornika z możliwością automatycznego odmywania krawędzi podłoża (proces EBR), płukania powierzchni spodniej wraz z dokumentacją i szkoleniem. Urządzenie zamknięte podłączane do wyciągu, programowalne.
Podobne przetargi
- „Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM- II”
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM - II
- Stacje pomiarowe fotoniki - Zautomatyzowany system do precyzyjnego pozycjonowania falowodów
- Dostawa komory solnej
- Wyłonienie Wykonawcy w zakresie najmu aparatury badawczej do przeprowadzenia badań obrazowych in vivo u zwierząt doświadczalnych na potrzeby (JCET), ul. M. Bobrzyńskiego 14, Kraków.
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego wywoływania warstw polimerów
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa wektorowego analizatora sieci mikrofalowych wraz z niezbędnym oprzyrządowaniem pomiarowym
- Dostawa stanowiska goniofotometrycznego
- Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
- Dostawa spektrometru mobilności cząstek (MPSS)
- Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.
- Dostawa stanowiska do detekcji defektów przyrządów półprzewodnikowych w warunkach in-operando za pomocą mikroskopii emisyjnej
- Dostawa mikroskopu optycznego