Skopiowano do schowka!
- Adres: 01-452 Warszawa, Księcia Janusza 64
- Województwo: mazowieckie
- Data zamieszczenia: 2026-04-03
- Zamieszczanie ogłoszenia: nieobowiązkowe
Zamawiający
- Nazwa zamawiającego: INSTYTUT GEOFIZYKI POLSKIEJ AKADEMII NAUK
- Adres: 01-452 Warszawa, Księcia Janusza 64
- Adres email: zamowieniapubliczne@igf.edu.pl
Przedmiot zamówienia
- Kod CPV: 38540000-2
- Nazwa zamówienia: Dostawa spektrometru mobilności cząstek (MPSS)
- Opis zamówienia: 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa zestawu pomiarowego składającego się z 1 sztuki spektrometru mobilności cząstek aerozolu (MPSS) wraz z 1 sztuką kondensacyjnego licznika cząstek aerozolu oraz oprogramowaniem.Na przedmiot zamówienia składają się:1) dostawa 1 sztuki spektrometru mobilności cząstek aerozolu;2) dostawa 1 sztuki kondensacyjnego licznika cząstek aerozolu;3) dostawa 1 sztuki licencji oprogramowania sterującego do spektrometru mobilności cząstek i licznika cząstek, które pozwala na rejestracje surowych danych pomiarowych oraz może zostać zainstalowane na komputerze z systemem operacyjnym MS Windows 11.
Podobne przetargi
- „Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM- II”
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM - II
- Stacje pomiarowe fotoniki - Zautomatyzowany system do precyzyjnego pozycjonowania falowodów
- Dostawa komory solnej
- Wyłonienie Wykonawcy w zakresie najmu aparatury badawczej do przeprowadzenia badań obrazowych in vivo u zwierząt doświadczalnych na potrzeby (JCET), ul. M. Bobrzyńskiego 14, Kraków.
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego wywoływania warstw polimerów
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego nakładania warstw polimerów
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa wektorowego analizatora sieci mikrofalowych wraz z niezbędnym oprzyrządowaniem pomiarowym
- Dostawa stanowiska goniofotometrycznego
- Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
- Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.
- Dostawa stanowiska do detekcji defektów przyrządów półprzewodnikowych w warunkach in-operando za pomocą mikroskopii emisyjnej
- Dostawa mikroskopu optycznego