Skopiowano do schowka!
- Adres: 01-142 Warszawa, ul. Sokołowska 29/37
- Województwo: mazowieckie
- Data zamieszczenia: 2026-04-08
- Zamieszczanie ogłoszenia: nieobowiązkowe
Zamawiający
- Nazwa zamawiającego: INSTYTUT WYSOKICH CIŚNIEŃ POLSKIEJ AKADEMII NAUK
- Adres: 01-142 Warszawa, ul. Sokołowska 29/37
- Adres email: dzp@unipress.waw.pl
Przedmiot zamówienia
- Kod CPV: 38540000-2
- Nazwa zamówienia: Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
- Opis zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest dostawa:• 6 identycznych systemów do jednostronnego, bezdotykowego pomiaru grubości kryształów i podłoży z azotku galu (GaN)• 1 systemu do dwustronnego, jednoczesnego pomiaru grubości kryształów z azotku galu (GaN), wyposażonego w dwa czujniki (góra/dół)Urządzenia przeznaczone będą do pomiarów grubości kryształów GaN na różnych etapach obróbki technologicznej, w tym również kryształów przyklejonych do metalowych nośników oraz wafli w jakości epi-ready.Systemy muszą umożliwiać pomiary bezdotykowe, eliminujące ryzyko uszkodzenia, zarysowania, zabrudzenia lub upadku badanego materiału (GaN jest materiałem kruchym).Szczegółowy opis przedmiotu zamówienia stanowi punkt 3 SWZ
Podobne przetargi
- „Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM- II”
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM - II
- Stacje pomiarowe fotoniki - Zautomatyzowany system do precyzyjnego pozycjonowania falowodów
- Dostawa komory solnej
- Wyłonienie Wykonawcy w zakresie najmu aparatury badawczej do przeprowadzenia badań obrazowych in vivo u zwierząt doświadczalnych na potrzeby (JCET), ul. M. Bobrzyńskiego 14, Kraków.
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego wywoływania warstw polimerów
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego nakładania warstw polimerów
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa wektorowego analizatora sieci mikrofalowych wraz z niezbędnym oprzyrządowaniem pomiarowym
- Dostawa stanowiska goniofotometrycznego
- Dostawa spektrometru mobilności cząstek (MPSS)
- Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.
- Dostawa stanowiska do detekcji defektów przyrządów półprzewodnikowych w warunkach in-operando za pomocą mikroskopii emisyjnej
- Dostawa mikroskopu optycznego