Przetargi.pl
Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.

  • Adres: 02-668 Warszawa, Aleja Lotników 32/46
  • Województwo: mazowieckie
  • Telefon/fax: tel.
  • Data zamieszczenia: 2026-03-28
  • Zamieszczanie ogłoszenia: nieobowiązkowe

Sekcja I - Zamawiający

Nazwa zamawiającego: SIEĆ BADAWCZA ŁUKASIEWICZ - INSTYTUT MIKROELEKTRONIKI I FOTONIKI

Adres: 02-668 Warszawa, Aleja Lotników 32/46

Adres email: agata.zygler@imif.lukasiewicz.gov.pl

Telefon:

Strona internetowa: https://imif.lukasiewicz.gov.pl/

Sekcja II - Przedmiot zamówienia

Nazwa zamówienia: Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.

Opis zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest dostawa, instalacja, uruchomienie, testowanie przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych wraz ze szkoleniem i dokumentacją.

Kod CPV: 38540000-2

Sekcja III - Warunki udziału

Opis warunków udziału:

Sekcja IV - Procedura

Tryb udzielenia zamówienia:

Termin składania ofert:

Podobne przetargi