Przetargi.pl
Profilometr optyczny

Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk ogłasza przetarg

  • Adres: 01-224 Warszawa, ul. Kasprzaka 44/52
  • Województwo: mazowieckie
  • Telefon/fax: tel. 22 3433151 , fax. 22 3433333
  • Data zamieszczenia: 2012-06-20
  • Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe

Sekcja I - Zamawiający

  • I.1. Nazwa i adres: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
    ul. Kasprzaka 44/52 44/52
    01-224 Warszawa, woj. mazowieckie
    tel. 22 3433151, fax. 22 3433333
    REGON: 00032604900000
  • Adres strony internetowej zamawiającego: www.ichf.edu.pl
  • I.2. Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego

Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu

  • II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
  • II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
    Profilometr optyczny
  • II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
  • II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
    Dostawa, zainstalowanie i uruchomienie fabrycznie nowego profilometru optycznego o następujących parametrach: - umożliwia wykonywanie pomiarów struktury powierzchni przezroczystych polimerów (poliwęglan (PC), polidimetylosiloksan (PDMS), polipropylen(PP)) i szkła. - posiada optyczny i bezkontaktowy system pomiaru - umożliwia badanie głębokości i szerokości struktur powierzchni oraz uskoków powierzchni - umożliwia pomiar objętości elementów powierzchni - umożliwia obliczanie pola badanej powierzchni - umożliwia obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego - stół XY z przesunięciem min. 100 mm x 100 mm - posiada co najmniej dwie głowice czujnika bezstykowego, jedna o zakresie pomiarowym na osi Z 2 - 3 mm, a druga o zakresie pomiarowym na osi Z 100 - 150 ?m - wyposażone w urządzenie sterujące - komputer o minimalnych parametrach: procesor 2,4 GHz, pamięć RAM 2 GB, karta graficzna o pamięci 500 MB, dysk twardy 80 GB (SATA), nagrywarka CD/DVD ? RW (SATA), system operacyjny Windows 7, monitor LCD 19, klawiatura, mysz, karta sieciowa - posiadające oprogramowanie umożliwiające: - kontrolę pracy profilometru -obserwację obrazu badanej powierzchni - dokładne badanie uskoków powierzchni - obliczanie objętości elementów powierzchni - obliczanie pola badanej powierzchni - obliczanie powierzchni przekroju poprzecznego badanych elementów powierzchni - rejestracje danych i analizę wyników w wymiarze 2D i 3D wraz z pomiarem chropowatości - prezentowanie wyników w kolorze w wymiarze 2D i 3D, wzdłuż osi X, wzdłuż osi Y - eksportowanie wyników w postaci map bitowych - eksportowanie wyników do formatu ASCII (oraz Mathlab) - korekcja powierzchni na podstawie 3 punktow wyznaczanych przez użytkownika - posiadające oprogramowanie kompatybilne z Win XP, Win Vista, Win 7 oraz ze standardowymi aplikacjami systemu Windows
  • II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 385000000
  • II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
  • II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
  • II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
  • II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 3 miesięcy

Sekcja III - Informacje o charakterze prawnym, ekonomicznym, finansowym i technicznym

  • III.1. Warunki dotyczące zamówienia
  • Informacja na temat wadium: nie jest wymagane

Sekcja IV - Procedura przetargowa

  • IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
  • IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
  • IV.2. Kryteria oceny ofert
  • IV.2.1. Kryteria oceny ofert: dodatkowe parametry urządzenia
  • IV.2.2. Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie
  • IV.3. Informacje administracyjne
  • IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: http://ichf.edu.pl/przetargi/przetargi.htm
  • IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)

Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną

Podobne ogłoszenia o przetargach