Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych ogłasza przetarg
- Adres: 00-665 Warszawa, ul. Nowowiejska 15/19
- Województwo: mazowieckie
- Telefon/fax: tel. 0-22 234 51 01 , fax. 0-22 234 58 97
- Data zamieszczenia: 2011-09-19
- Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe
Sekcja I - Zamawiający
- I.1. Nazwa i adres: Politechnika Warszawska Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych
ul. Nowowiejska 15/19 15/19
00-665 Warszawa, woj. mazowieckie
tel. 0-22 234 51 01, fax. 0-22 234 58 97
REGON: 00000155400000 - Adres strony internetowej zamawiającego: www.pw.edu.pl
- I.2. Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna
Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu
- II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
- II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dostawa, uruchomienie i przetestowanie stanowiska pomiarów on wafer POSTĘPOWANIE NUMER WEiTI/218/BZP/2011/1035 - II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
- II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest: Dostawa, uruchomienie i przetestowanie stanowiska pomiarów on wafer Szczególne wymagania dotyczące przedmiotu zamówienia: - Aparatura powinna być produktem wysokiej jakości, musi być fabrycznie nowa z bieżącej produkcji, wolna od wad materiałowych i prawnych. - Aparatura oraz jej wyposażenie powinny być oznakowane w taki sposób, aby możliwa była identyfikacja zarówno produktu jak i producenta. -Dostarczony zestaw musi zawierać wszystkie niezbędne elementy umożliwiające rozpoczęcie pracy takie jak oprogramowanie, sterowniki, kable, itp. -Aparatura musi spełniać wymagania wynikające z przepisów bezpieczeństwa i higieny pracy oraz wymagania i normy określone w opisach technicznych. -Wszelkie wymagania techniczne dotyczące przedmiotu zamówienia należy traktować jako graniczne, brak możliwości spełnienia przez proponowaną aparaturę lub oprogramowanie któregokolwiek z wymienionych parametrów wyklucza je z dalszej oceny. -Zamawiający wymaga dostarczenia wraz z dostawą aktualnych ( nie starszych niż 3 miesiące od daty dostawy) certyfikatów kalibracji wszystkich komponentów dostarczonego zestawu. -Wykonawca przeszkoli u Zamawiającego co najmniej 5 osób wskazanych przez Zamawiającego w zakresie obsługi stanowiska pomiarów -on wafer. -Zamawiający wymaga dostarczenia i zestawienia kompletnego stanowiska pomiarowego, pozwalającego na rozpoczęcie pomiarów bez konieczności uzupełnienia jego wyposażenia o jakiekolwiek elementy Szczegółowe określenie zakresu gwarancji i serwisu oraz pełen opis techniczny dla przedmiotu zamówienia zawarte jest w niniejszym SIWZ w załączniku nr 3 - Opis przedmiotu zamówienia. Miejsce dostawy dla przedmiotu postępowania: Przedmiot zamówienia powinien być dostarczony do siedziby Użytkowników tj.: Politechnika Warszawska, Wydz. Elektroniki i Technik Informacyjnych, Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki Politechniki Warszawskiej, 00-665 Warszawa, Ul. Nowowiejska 15/19, pokój 54 - II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 317121001
- II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
- II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
- II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
- II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 70 dni
Sekcja III - Informacje o charakterze prawnym, ekonomicznym, finansowym i technicznym
- III.1. Warunki dotyczące zamówienia
- Informacja na temat wadium: Zamawiający nie przewiduje wniesienia wadium
Sekcja IV - Procedura przetargowa
- IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
- IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
- IV.2. Kryteria oceny ofert
- IV.2.2. Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie
- IV.3. Informacje administracyjne
- IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: http://www.zamowienia.pw.edu.pl
- IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)
Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną
Podobne ogłoszenia o przetargach
- Dostawa stanowiska ostrzowego z sondami pomiarowymi i wyposażeniem Postępowanie nr WEiTI/4/F/ZP/2015/1030
Dodano: 2015-08-24 - Dostawa fabrycznie nowego urządzenia typu wire-bonder Delivery of the brand new wire bonder.
Dodano: 2012-12-19 - Dostawa fabrycznie nowego urządzenia typu wire-bonder
Dodano: 2012-10-19 - Dostawa sitodrukarki do nanoszenia grubych warstw
Dodano: 2011-10-04 - Dostawa pieca tunelowego do wypalania grubych warstw POSTĘPOWANIE NUMER WEiTI/240/BZP/2011/1035
Dodano: 2011-10-04 - Dostawa urządzenia do montażu struktur półprzewodnikowych na podłożach ceramicznych
Dodano: 2009-11-19 - Dostawa systemu pozycjonowania i naświetlania
Dodano: 2009-08-24