Przetargi.pl
dostawa oprogramowania

Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach ogłasza przetarg

  • Adres: 25-369 Kielce, ul. Żeromskiego 5
  • Województwo: świętokrzyskie
  • Telefon/fax: tel. 41 3497277 , fax. 41 3497278
  • Data zamieszczenia: 2015-08-03
  • Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe

Sekcja I - Zamawiający

  • I.1. Nazwa i adres: Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach
    ul. Żeromskiego 5 5
    25-369 Kielce, woj. świętokrzyskie
    tel. 41 3497277, fax. 41 3497278
    REGON: 00000140700000
  • Adres strony internetowej zamawiającego: www.ujk.edu.pl
  • I.2. Rodzaj zamawiającego: Uczelnia publiczna

Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu

  • II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
  • II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
    dostawa oprogramowania
  • II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
  • II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
    Przedmiotem zamówienia jest dostawa oprogramowania tzn. dostarczenie do miejsca użytkowania. Cechy użytkowe oprogramowania: - z oprogramowania będą korzystać przez okres jednego roku do celów edukacyjnych i badawczych wszyscy pracownicy i studenci uczelni; - ma mieć możliwość instalacji oraz korzystania z oprogramowania na domowych komputerach pracowników oraz studentów uczelni; - polskojęzyczne środowisko pracy w programie; - uaktualnienia do nowych wersji w czasie obowiązywania umowy (bez dodatkowych opłat); - użytkownicy mają mieć prawo do pomocy technicznej bez wnoszenia dodatkowych opłat (pomoc techniczna musi być świadczona za pośrednictwem poczty elektronicznej i telefonicznie w godzinach pracy zamawiajacego); - ma mieć mozliwość instalacji zarówno sieciowo, jak i na pojedynczych stanowiskach. Środowisko pracy z programem i korzystanie z zewnętrznych danych - ma mieć możliwość składowania danych w arkuszu danych umożliwiającym interakcyjne wprowadzanie i przekształcanie danych (sortowanie, transformacje zmiennych, ułóż w stertę/rozrzuć po zmiennych) oraz import i eksport danych (m.in. z plików Excel i plików tekstowych). - Oprogramowanie ma mieć możliwość łączenia z bazami danych przez OLE DB. - Ma umożliwiać wczytywanie i zapis danych w formacie Excel (w wersji 2003 .xls, i w wersji 2007 xlsx), tekstowym, html. - Ma umożliwiać wczytywanie i zapis plików danych w formatach: STATISTICA, SPSS, SAS, JMP, Minitab - Oprogramowanie musi zawierać wbudowany, zgodny ze standardami język programowania Visual Basic, który umożliwi dostęp programowy do funkcji programu, programowanie własnych procedur analitycznych (w tym węzłów analizy wykorzystywanych w przestrzeni roboczej data mining) oraz automatyzację prac. - Musi mieć dostęp do aplikacji poprzez interfejs COM. - Oprogramowanie musi działać na stanowisku komputerowym pod kontrolą systemu operacyjnego Windows Vista/7/8 i ich odpowiednikach serwerowych. - Musi mieć możliwość instalacji wersji dedykowanej pod 32- lub 64- bitowy system Windows. Zarządzanie wynikami: - Oprogramowanie musi zapewnić możliwość tworzenia raportów z analizy, z możliwością zapisania w formacie PDF. - Musi umożliwiać przesyłanie wyników (tabel, wykresów) do dokumentów edytora tekstowego (np. MsWord). - Musi mieć możliwość ustawienia wynikowych tabel jako dane wejściowe dla kolejnych analiz. - Raport otrzymywany przy pomocy oprogramowania ma przypominać dokument edytora tekstu, a poszczególne obiekty (np. wykresy, arkusze, arkusz czy wykres MS Excel) umieszczane mają być w nim kolejno, jeden za drugim. Wszystkie raporty mogą być zapisywane nie tylko we własnym formacie oprogramowania, ale także w postaci plików RTF, HTML. - Oprogramowanie ma pozwalać na zapis wszystkich dokumentów (arkuszy danych i wyników, raporty) w postaci plików HTML, gotowych do opublikowania w Internecie lub Intranecie. - Ma mieć możliwość aktualizacji wykresów utworzonych po ich wstawieniu do dokumentu edytora tekstowego (tzn. wykresy mogą być wstawiane jako obiekty OLE). - Ma mieć możliwość aktualizacji utworzonych wykresów po zmianie danych źródłowych automatycznie lub ręcznie przez użytkownika (nie dotyczy map). - Ma mieć możliwość edycji wykresów po ich utworzeniu. Funkcjonalność oprogramowania: Oprogramowanie ma udostępnniać w jednym środowisku użytkownika następujące funkcje analityczne: - Statystyki podstawowe i tabele - wykonywania analiz w grupach - Wykresy: histogramy, wykresy rozrzutu, wykres workowy, wykresy średnia i błędy, wykresy ramka-wąsy, wykres składowych zmienności, wykresy zakresu, wykres rozrzutu z błędem, obrazkowe wykresy rozrzutu, wykresy rozrzutu z rysunkami, wykresy rozrzutu z histogramami, wykresy normalności, wykresy kwantyl-kwantyl, wykresy prawdopodobieństwo-prawdopodobieństwo, wykresy słupkowe/kolumnowe, wykresy liniowe, wykresy sekwencyjne/nakładane, wykresy kołowe, wykresy brakujących danych i spoza zakresu, histogramy dwóch zmiennych, wykresy powierzchniowe, wykresy warstwicowe, wykresy waflowe, wykresy trójkątne, skategoryzowane wykresy XYZ, skategoryzowane wykresy trójkątne, wykresy macierzowe, wykresy obrazkowe, wykresy XYZ 3W, wykresy trójkątne 3W - Dopasowanie rozkładów - Regresja wieloraka - Analiza wariancji (ANOVA) - Statystyki nieparametryczne - Ogólne modele liniowe - Uogólnione modele liniowe i nieliniowe - Ogólne modele regresji - Modele cząstkowych najmniejszych kwadratów - Komponenty wariancyjne - Analiza przeżycia - Estymacja nieliniowa - Linearyzowana regresja nieliniowa - Analiza log-liniowa tabel liczności - Szeregi czasowe i prognozowanie - Modelowanie równań strukturalnych - Analiza skupień - Analiza czynnikowa - Składowe główne i klasyfikacja - Algorytm NIPALS dla analizy składowych głównych i metody cząstkowych najmniejszych kwadratów - Analiza kanoniczna - Analiza rzetelności i pozycji - Drzewa klasyfikacyjne - Analiza korespondencji - Skalowanie wielowymiarowe - Analiza dyskryminacyjna - Ogólne modele analizy dyskryminacyjnej - Analiza mocy testów - Sieci neuronowe - Dobór i eliminacja zmiennych (dla dużych zbiorów danych) - Analiza koszykowa - Interakcyjne drążenie danych - Analiza skupień uogólnioną metodą EM i k-średnich - Uogólnione modele addytywne (GAM) - Ogólne modele drzew klasyfikacyjnych i regresyjnych (GTrees) - Ogólne modele CHAID (Chi-square Automatic Interaction Detection) - Interakcyjne drzewa klasyfikacyjna i regresyjne - Wzmacniane drzewa klasyfikacyjne i regresyjne (Boosted Rrees) - Multivariate Adaptive Regression Splines (MAR Splines) - Obliczanie dobroci dopasowania - Szybkie wdrażanie modeli predykcyjnych - Naiwny klasyfikator Bayesa - Support Vector Machines - Metoda k-najbliższych sąsiadów - Łączenie grup (klas) z wykorzystaniem algorytmu CHAID - ICA (Independent Component Analysis) - Losowy las (Random Forests) - Standardowe karty kontrolne: karta X średniego i R, karta X średniego i S, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu (I/MR), karta sum skumulowanych (CUSUM), karta średniej ruchomej (MA), karta wykładniczo ważonej średniej ruchomej (EWMA), karty dla pomiarów alternatywnych (C, U, Np, P), karta Pareto, karty wielowymiarowe, karty wielotorowe - Interaktywne zaznaczanie i etykietowanie punktów - Przypisywanie przyczyn i działań - Elastyczny, dostosowywalny system alarmowania - Praca inżyniera i operatora; zabezpieczanie hasłem - Karty krótkich serii - Karty wieloźródłowe (zgrupowane i zgrupowane krótkich serii) - Wskaźniki zdolności, wykonania i linie kontrolne dla rozkładów innych niż normalny - Karty kontrolne w czasie rzeczywistym; zewnętrzne źródła danych - Wielowymiarowe karty kontrolne Kart T^2 Hotellinga - Wielowymiarowe karty kontrolne Wieloźródłowych (zgrupowanych) kart T^2 Hotellinga - Wielowymiarowe karty kontrolne wykładniczo ważonej średniej ruchomej (MEWMA) - Wielowymiarowe karty sum skumulowanych (MCUSUM) - Karta uogólnionej wariancji - Analiza zdolności procesu: wskaźniki zdolności procesów (np. Cp, Cr, Cpk, Cpl, Cpu, K, Cpm, Pp, Pr, Ppk, Ppl, Ppu i inne), - Plany badania i analiza powtarzalności i odtwarzalności pomiarów (R&R) - Analiza Weibulla - Analiza doświadczenia: Ogólne możliwości - Analiza resztowa i przekształcenia - Optymalizacja pojedynczej lub wielu wielkości wyjściowych: - Standardowe plany frakcyjne dwuwartościowe 2(k-p) - Plany frakcyjne 2(k-p) o najmniejszej aberracji i maksymalnym nieuwikłaniu - Plany eliminacyjne (Placketta-Burmana) - Plany frakcyjne trójwartościowe typu 3(k-p) z podziałem na bloki oraz plany Boxa-Behnkena - Plany centralne kompozycyjne (powierzchnia odpowiedzi) - Plany kwadratów łacińskich - Doświadczenia wg metody Taguchi - Plany dla mieszanin i powierzchni o podstawie trójkątnej - Plany dla ograniczonych powierzchni i mieszanin - Plany D i A-optymalne - Funkcjonalność text mining - Analiza dokumentów zapisanych w formacie MS Word - Zliczanie wystąpień słów - Różne miary częstości występowania słów : prosta częstość, częstość binarna (ang. binary frequency), odwrotna częstość dokumentowa (ang. inverse document frequency), częstość logarytmiczna - Możliwość określania własnej stop-listy - Możliwość określania synonimów - Wykonywanie rozkładu według wartości osobliwych (ang. singular value decomposition) dla miar częstości występowania słów w zbiorze dokumentów - Analiza sekwencji i połączeń - Metaanaliza i metaregresja - Kreator regresji logistycznej - Miary powiązania/efektów - Krzywe ROC - Wykres Blanda-Altmana - Test post hoc ANOVA Friedmana - Definiowanie reguł poprawności danych - Analiza brakujących danych - Przekodowanie na zmienne sztuczne - Możliwość wizualizacji danych na mapach: a) Gotowe szablony map dostępne w programie muszą obejmować podział Polski na: województwa, powiaty, gminy, okręgi wyborcze, województwa w podziale na powiaty, województwa w podziale na gminy, województwa w starym podziale b) Możliwość wczytywania innych niż zawarte w programie szablonów map w formacie *.shp c) Kolorowanie na mapach tła obszarów wartościami zadanej zmiennej (predefiniowane palety do wyboru, możliwość ustalenia palety użytkownika, możliwość ustalenia własnych granic dla przedziałów legendy, możliwość zapisu/wczytania palety kolorów z/do pliku) d) Generowanie wykresów kołowych i słupkowych (możliwość ręcznej zmiany wielkości wykresu, możliwość ręcznego ustalenia jego położenia, możliwość zmiany skalowania wysokości słupka względem wiersza/kolumny/całości, zmienny promień wykresu kołowego zależny od wartości ze zmiennej) e) Wyświetlanie etykiet tekstowych pobranych z zadanej zmiennej lub zmiennej zawierającej mapowanie elementów wraz z formatowaniem zadanych przez użytkownika (kolor, krój itp.), oraz ręczną korekcją położenia etykiety względem innych elementów wykresu f) Różne stany wyświetlania elementów obszaru - aktywny, nieaktywny, ukryty g) Ma umożliwiać użytkownikowi zmianę rodzaju i grubości linii rysowanych jako granice h) Ma mieć możliwość zapisu/odczytu z i do pliku wszystkich opcji wyglądu mapy i) Ma mieć możliwość ręcznej edycji przez użytkownika szablonów map wczytanych w programie (usuwanie obszarów, scalanie obszarów) i zapisu jako nowy szablon j) Ma mieć możliwość zarejestrowania wygenerowanej mapy (z wizualizacją danych) w postaci makra
  • II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 483220000
  • II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
  • II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
  • II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
  • II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 30 dni

Sekcja III - Informacje o charakterze prawnym, ekonomicznym, finansowym i technicznym

  • III.1. Warunki dotyczące zamówienia
  • Informacja na temat wadium: Warunkiem udziału w postępowaniu jest wniesienie przelewem wadium w kwocie: 800 zł (słownie złotych: osiemset 00/100); Wykonawca, który zamierza wnieść wadium w pieniądzu powinien wpłacić ww. kwotę: przed upływem terminu składania ofert na konto Zamawiającego: UNIWERSYTET Jana Kochanowskiego w Kielcach Nr 92 1750 1110 0000 0000 2108 1318.

Sekcja IV - Procedura przetargowa

  • IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
  • IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
  • IV.2. Kryteria oceny ofert
  • IV.2.1. Kryteria oceny ofert: dodatkowe funkcjonalności
  • IV.3. Informacje administracyjne
  • IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: www.ujk.edu.pl
  • IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)

Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną