Przetargi.pl
Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM

Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk ogłasza przetarg

  • Adres: 01-224 Warszawa, ul. Kasprzaka 44/52
  • Województwo: mazowieckie
  • Telefon/fax: tel. 22 3433151 , fax. 22 3433333
  • Data zamieszczenia: 2012-02-20
  • Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe

Sekcja I - Zamawiający

  • I.1. Nazwa i adres: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
    ul. Kasprzaka 44/52 44/52
    01-224 Warszawa, woj. mazowieckie
    tel. 22 3433151, fax. 22 3433333
    REGON: 00032604900000
  • Adres strony internetowej zamawiającego: www.ichf.edu.pl
  • I.2. Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego

Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu

  • II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
  • II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
    Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM
  • II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
  • II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
    Dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie dodatkowego wyposażenia i oprogramowania skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM. 1. Podkolumnowy niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych Niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych umożliwiający uzyskiwanie odwzorowania preparatów w warunkach niskiej próżni z soczewką obiektywu pracującą w trybie immersyjnym. Przy pomocy tego detektora, montowanego pod soczewką końcową powinna być możliwa ultra-wysokorozdzielcza rejestracja obrazów próbek nieprzewodzących lub szybko zanieczyszczających się. 2. Detektor niskopróżniowy pierścieniowy Detektor elektronów wstecznie rozproszonych zoptymalizowany do pracy w trybie niskiej próżni, redukujący efekt rozpraszania się wiązki elektronowej w środowisku gazu roboczego (tzw. zjawisko (beam skirt) oraz umożliwiający precyzyjną analizę EDX w niskiej próżni. 3. Zintegrowany z mikroskopem SEM system do czyszczenia powierzchni próbek. Urządzenie zintegrowane z komora mikroskopu SEM. Przeznaczone do czyszczenia powierzchni preparatu plazmą niskoenergetyczną w celu usunięcia zanieczyszczeń węglowodorowych przy wysokorozdzielczym obrazowaniu preparatu. Urządzenie sterowane z poziomu oprogramowania mikroskopu. 4. Oprogramowanie do łatwiej nawigacji po powierzchni preparatu Specjalistyczne oprogramowanie współpracujące z mikroskopami SEM, pozwalające operatorowi mikroskopu na poruszanie się w obszarze stolika z badanym preparatem przy użyciu zdjęcia tego stolika zaimportowanego z zewnętrznego źródła takiego jak np. mikroskop optyczny. Dodatkowo oprogramowanie powinno umożliwiać tworzenia wysokorozdzielczej wielkoformatowej (złożonej z poszczególnych segmentów) mapy elektronowej danego obszaru oglądanego preparatu, z możliwością zapisania takiego zdjęcia w pliku na dysku komputera. 5. Konsola sterująca do mikroskopu SEM Nova 450 NanoSEM. Panel do manualnego sterowania parametrami mikroskopu FEI Nova 450 NanoSEM, takimi jak: ustawianie ostrości, powiększenie, kontrast, jasność, przesuwanie wiązki i korekcja astygmatyzmu.
  • II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 385111001
  • II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
  • II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
  • II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
  • II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 4 miesięcy

Sekcja III - Informacje o charakterze prawnym, ekonomicznym, finansowym i technicznym

  • III.1. Warunki dotyczące zamówienia
  • Informacja na temat wadium: wadium nie jest wymagane

Sekcja IV - Procedura przetargowa

  • IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
  • IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
  • IV.2. Kryteria oceny ofert
  • IV.2.2. Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie
  • IV.3. Informacje administracyjne
  • IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: http://ichf.edu.pl/przetargi/przetargi.htm
  • IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)

Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną

Podobne ogłoszenia o przetargach