Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk ogłasza przetarg
- Adres: 01-224 Warszawa, ul. Kasprzaka 44/52
- Województwo: mazowieckie
- Telefon/fax: tel. 22 3433151 , fax. 22 3433333
- Data zamieszczenia: 2012-02-20
- Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe
Sekcja I - Zamawiający
- I.1. Nazwa i adres: Instytut Chemii Fizycznej Polskiej Akademii Nauk
ul. Kasprzaka 44/52 44/52
01-224 Warszawa, woj. mazowieckie
tel. 22 3433151, fax. 22 3433333
REGON: 00032604900000 - Adres strony internetowej zamawiającego: www.ichf.edu.pl
- I.2. Rodzaj zamawiającego: Podmiot prawa publicznego
Sekcja II - Przedmiot zamówienia, przetargu
- II.1. Określenie przedmiotu zamówienia
- II.1.1. Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Dodatkowe wyposażenie skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM - II.1.2. Rodzaj zamówienia: dostawy
- II.1.3. Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Dostawa, instalacja, uruchomienie i przetestowanie dodatkowego wyposażenia i oprogramowania skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Nova 450 NanoSEM. 1. Podkolumnowy niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych Niskopróżniowy detektor elektronów wtórnych umożliwiający uzyskiwanie odwzorowania preparatów w warunkach niskiej próżni z soczewką obiektywu pracującą w trybie immersyjnym. Przy pomocy tego detektora, montowanego pod soczewką końcową powinna być możliwa ultra-wysokorozdzielcza rejestracja obrazów próbek nieprzewodzących lub szybko zanieczyszczających się. 2. Detektor niskopróżniowy pierścieniowy Detektor elektronów wstecznie rozproszonych zoptymalizowany do pracy w trybie niskiej próżni, redukujący efekt rozpraszania się wiązki elektronowej w środowisku gazu roboczego (tzw. zjawisko (beam skirt) oraz umożliwiający precyzyjną analizę EDX w niskiej próżni. 3. Zintegrowany z mikroskopem SEM system do czyszczenia powierzchni próbek. Urządzenie zintegrowane z komora mikroskopu SEM. Przeznaczone do czyszczenia powierzchni preparatu plazmą niskoenergetyczną w celu usunięcia zanieczyszczeń węglowodorowych przy wysokorozdzielczym obrazowaniu preparatu. Urządzenie sterowane z poziomu oprogramowania mikroskopu. 4. Oprogramowanie do łatwiej nawigacji po powierzchni preparatu Specjalistyczne oprogramowanie współpracujące z mikroskopami SEM, pozwalające operatorowi mikroskopu na poruszanie się w obszarze stolika z badanym preparatem przy użyciu zdjęcia tego stolika zaimportowanego z zewnętrznego źródła takiego jak np. mikroskop optyczny. Dodatkowo oprogramowanie powinno umożliwiać tworzenia wysokorozdzielczej wielkoformatowej (złożonej z poszczególnych segmentów) mapy elektronowej danego obszaru oglądanego preparatu, z możliwością zapisania takiego zdjęcia w pliku na dysku komputera. 5. Konsola sterująca do mikroskopu SEM Nova 450 NanoSEM. Panel do manualnego sterowania parametrami mikroskopu FEI Nova 450 NanoSEM, takimi jak: ustawianie ostrości, powiększenie, kontrast, jasność, przesuwanie wiązki i korekcja astygmatyzmu. - II.1.4. Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 385111001
- II.1.5. Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej: nie
- II.1.6. Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej: nie
- II.1.7. Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających: nie
- II.2. Czas trwania zamówienia lub termin wykonania: 4 miesięcy
Sekcja III - Informacje o charakterze prawnym, ekonomicznym, finansowym i technicznym
- III.1. Warunki dotyczące zamówienia
- Informacja na temat wadium: wadium nie jest wymagane
Sekcja IV - Procedura przetargowa
- IV.1. Tryb udzielenia zamówienia
- IV.1.1. Tryb udzielenia zamówienia: przetarg nieograniczony
- IV.2. Kryteria oceny ofert
- IV.2.2. Wykorzystana będzie aukcja elektroniczna: nie
- IV.3. Informacje administracyjne
- IV.3.1. Adres strony internetowej, na której dostępna jest specyfikacja istotnych warunków zamówienia: http://ichf.edu.pl/przetargi/przetargi.htm
- IV.3.5. Termin związania ofertą, okres w dniach: 30 (od ostatecznego terminu składania ofert)
Zobacz następny przetargZobacz poprzedni przetargPobierz ofertę w pliku pdfPowrót na stronę główną
Podobne ogłoszenia o przetargach
- Zakup i dostawa systemu EDS do skaningowego mikroskopu elektronowego typu stolikowego HITACHI TM 3030
Dodano: 2016-01-26 - Dostawa doposażenia skaningowego elektronowego mikroskopu transmisyjnego Hitachi HD2700 w tryby pracy przy napięciach przyśpieszających 80 i 120 kV.
Dodano: 2013-09-27 - DOSTAWA UKŁADU KRIOGENICZNEGO DO CIEKŁEGO AZOTU - DOPOSAŻENIE MIKROSKOPU QUANTA 3D FEG FIRMY FEI
Dodano: 2012-10-24 - Dostawa mikroskopu skaningowego
Dodano: 2012-09-27 - DOSTAWA ELEMENTÓW DOPOSAŻENIA MIKROSKOPU QUANTA 3D FEG FIRMY FEI
Dodano: 2012-08-14 - Dostawę laboratoryjnego skaningowego mikroskopu elektronowego wraz z wyposażeniem dla Instytutu Technologii Materiałów Elektronicznych w Warszawie
Dodano: 2011-09-30 - dostawa skaningowego mikroskopu elektronowego
Dodano: 2011-02-03 - Dostawa mikroskopu tunelowego STM, numer sprawy BT/11/2009
Dodano: 2009-08-28