Skopiowano do schowka!
- Adres: 81-127 Gdynia, Inżyniera Jana Śmidowicza, 69
- Województwo: pomorskie
- Data zamieszczenia: 2026-05-04
- Zamieszczanie ogłoszenia: nieobowiązkowe
Zamawiający
- Nazwa zamawiającego: Akademia Marynarki Wojennej im. Bohaterów Westerplatte
- Adres: 81-127 Gdynia, Inżyniera Jana Śmidowicza, 69
- Adres email: przetargi@amw.gdynia.pl
- Strona internetowa: www.amw.gdynia.pl
Przedmiot zamówienia
- Kod CPV: 38540000-2
- Nazwa zamówienia: Przenośny analizator diagnostyczny do pomiaru drgań, termowizji, sygnałów akustycznych i ultradźwiękowych oraz wyważania w 1 i 2 płaszczyznach
- Opis zamówienia: Dostawa fabrycznie nowego analizatora parametrów diagnostycznych umożliwiającego wykorzystanie pomiarów drgań, pomiarów termowizyjnych, sygnałów akustycznych, sygnałów z czujników ultradźwiękowych oraz prowadzenia wyważania 1 i 2 płaszczyznowego – 1 kpl.Szczegółowy opis w załączniku nr 2 do SWZ
Podobne przetargi
- „Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM- II”
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM - II
- Stacje pomiarowe fotoniki - Zautomatyzowany system do precyzyjnego pozycjonowania falowodów
- Dostawa komory solnej
- Wyłonienie Wykonawcy w zakresie najmu aparatury badawczej do przeprowadzenia badań obrazowych in vivo u zwierząt doświadczalnych na potrzeby (JCET), ul. M. Bobrzyńskiego 14, Kraków.
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego wywoływania warstw polimerów
- Dostawa urządzenia do półautomatycznego nakładania warstw polimerów
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa komory klimatycznej do NCBJ OR POLATOM
- Dostawa wektorowego analizatora sieci mikrofalowych wraz z niezbędnym oprzyrządowaniem pomiarowym
- Dostawa stanowiska goniofotometrycznego
- Dostawa systemów do bezdotykowego pomiaru grubości kryształów azotku galu (GaN)
- Dostawa spektrometru mobilności cząstek (MPSS)
- Dostawa przyrządu do pomiarów profili rezystencji rozpraszania i koncentracji nośników w strukturach półprzewodnikowych.
- Dostawa stanowiska do detekcji defektów przyrządów półprzewodnikowych w warunkach in-operando za pomocą mikroskopii emisyjnej